TT260A涂層測(cè)厚儀
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
特點(diǎn)：
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
可使用10種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F5、F10、N400、N1、N1/90°、CN02、N10)；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(A-B)；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）；
可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有存貯功能：可存貯495個(gè)測(cè)量值；
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
具有電源欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
原理
TT260A 涂層測(cè)厚儀采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F型測(cè)頭)
當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N型測(cè)頭)
利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
技術(shù)參數(shù)表
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測(cè)頭型號(hào)
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F400
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F1
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F1/90°
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F5
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F10
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工作原理
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磁 感 應(yīng)
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測(cè)量范圍(um)
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0～400
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0～1250
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0～5000
|
0～10000
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低限分辨力(um)
|
0.1
|
0.1
|
1
|
10
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示值
誤差
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一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
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±(3%H+1)
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±(3%H+5)
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±(3%H+10)
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二點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
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±((1～3)%H+0.7)
|
±((1～3)%H+1)
|
±((1～3)%H+5)
|
±((1～3)%H+10)
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測(cè)
試
條
件
|
*小曲率半徑(mm)
|
凸
|
1
|
1.5
|
平直
|
5
|
10
|
|
*小面積的直徑(mm)
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F3
|
F7
|
F7
|
F20
|
F40
|
|
基體臨界厚度(mm)
|
0.2
|
0.5
|
0.5
|
1
|
2
|
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|
|
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|
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|
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測(cè)頭型號(hào)
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N400
|
N1
|
N1/90°
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CN02
|
N10
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工作原理
|
渦 流
|
|
測(cè)量范圍(um)
|
0～400
|
0～1250
|
10～200
|
0～10000
|
|
低限分辨力(um)
|
0.1
|
0.1
|
1
|
10
|
|
示
值
誤差
|
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
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±(3%H+0.7)
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±(3%H+1.5)
|
±(3%H+1)
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±(3%H+25)
|
|
二點(diǎn)校準(zhǔn)(um)
|
±[(1～3%H+0.7)
|
±[(1～3)%H+1.5]
|
___
|
±((1～3)%H+25)
|
|
測(cè)
試
條
件
|
*小曲率半徑(mm)
|
凸
|
1.5
|
3
|
平直
|
僅為平直
|
25
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*小面積的直徑(mm)
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F4
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F5
|
F5
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F7
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F50
|
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基體臨界厚度(mm)
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0.3
|
0.3
|
0.3
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無(wú)限制
|
50mm鋁箔
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注：H——標(biāo)稱值
