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涂層膜厚儀測量注意事項
日期：2025-05-16 08:12
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摘要：
涂層膜厚儀測量注意事項
a)基體金屬特性 對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
b)基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，進行校準后，可以測量。
c)邊緣效應：不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
d)曲率：不應在試件的彎曲表面上測量。
e)讀數(shù)次數(shù)：通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此L170涂層測厚儀必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此。
f)表面清潔度：測量前，應**表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
g)磁場：周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的磁場會嚴重干擾磁性測厚工作
h)測頭取向：測頭的放置方式對測量有影響，在測量時應該與工件保持垂直